ict测试仪设计理念
时间：2021-10-13| 作者：admin
ict测试仪，即in circuit test,线路板内路测试仪器，这种装备就是快速检查电路板的缺陷。在批量消耗时接纳的装备。
我们所用的ict测试仪的的功用无非是这几种：1、contact测试，即开路测试。
2、short测试，即短路测试。
3、OX/JX测试。即衔接器测试（也可测BGA、IC能否空焊。
4、component测试，即元件测试。元件测试分为resistance（电阻）、电容测试、电感测试。
5、上电测试，即测试IC局部�Ｉ杏猩杖蚊�。
具有这五种功用的ict测试仪装备，其价值就在500万美圆每台，有前四种功用的ict测试仪器，也能卖到100万每台（就我所明确到的几种测试仪器来看）。再看看它们的测试原理。
contact测试
开路测试，给一定的电压，到指定的测试点，在另外指定的点上量电压，电压小于给定值，就剖析该点有问题。这种电路不难吧，经典硬件电路网上大把都是。
short测试
短路测试是测试两点之间的电阻，理论和电阻测试一样，[敏感词]将详述。
OX/JX测试
上面一个感应片，[敏感词]的针点给一个AC信号，感应片感应到的信号在某一规模内，凌驾规模就判别为有问题。
component测试
元件测试更简朴，电感能够当零电阻来盘算（测试仪器都是这么干的）。给元件一端加电流，另一端测试电压（简朴吧、若是想要硬件电路图，我这里有并且准确到0.03%，13642869852&Email:loof_lripa@163.com）。
另外，并联电阻的测试也很巧妙，它是用的运算放大器的虚连、电压相等特征，测试方法如下：
电阻R2两头电压相等，电流为0。以是待测电阻R1的电流就I为所给电流，这样就能够测到电压V，R1的值就为R=V/I。
应用运算放大器阻止测试。由“A”点“虚地”的看法有：
∵Ix = Iref # f h. d+ y/ V. e j
∴Rx = Vs/ V0*Rref * F' n- O7 l+ r5 V0 N1 e9 x; m
Vs、Rref划分为勉励信号源、仪器盘算电阻。丈量出V0，则Rx可求出。 8 e+ a0 G6 y9 A( N; M* g
若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗方法，同样可求出C或L。 1 _, \ Q F- q" c
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上电测试，即POWER UP测试
上电测试就是测IC的功用，例如逻辑器件，就只测真值表。ict测试仪测IC功用有没有问题�Ｉ杏兴降腷oundery scan测试，即领土扫描。是给IC的引脚一个时序，在其他的脚上探测信号的测试，是测试IC的衔接问题。听说是测试上很先进的一种方法。
测试原理讲完了，这些原理就是基础的数字模拟信号的应用，想晓得详细参数的能够联络我。另外，就我现在所开发的测试装备的一些学问能够简朴的讲一下其硬件结构：
ict测试仪硬件结构主要有两大结构：1、功用板。2、寻址板（寻址即找到指定针点）能够用以下方法：
功用板是用来衔接电脑，爆发和丈量电流电压信号，和控制寻址板用，可用FPGA控制。将寻址板所衔接到的针位与爆发的信号相衔接，就能够控制到待测板的各个元件了。寻址板也可用FPGA来找到指定针点，若是针点太多128或者256，那就要用到RELAY了。
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